REK-20S紫外荧光硫测定仪 紫外荧光硫含量测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。
REK-20S紫外荧光硫含量测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。
REK-20S荧光定硫仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时,过量的能量就以光的形式释放出来,并用光电倍增管
TS-3000荧光硫测定仪 概 述: TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回
TS-3000荧光硫测定仪 概 述: TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回
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TS-3000荧光硫测定仪 概 述: TS-3000荧光硫测定仪采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫(硫含量)受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回
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